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本次展出
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○ AOI設備
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● 光學系統
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○ 取像系統
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○ 影像分析
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○ 運動控制
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○ 其他
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展出品牌
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日本-大塚電子株式会社 OTSUKA
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展品資料
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大塚電子身為膜厚測量設備・綜合製造商，深穫客戶信賴具有豐富的實績
基於客戶立場的「Two Way」形式、從R&D到生產線皆可廣泛應用
細膩支援多樣化量測項目和廣泛應用領域、支持新銳尖端技術的未來
採用高精度、多波長光譜儀
- 實現非接觸、非破壞、且高速與高精度量測
- 支援膜厚、多層膜、著色試樣等、各種樣品與用途
- 實現高性能、再現性
新品上架:三次元深度方向的量測
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展品圖 |
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基本資料
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地址
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台北市中山區松江路237號4F
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業務聯絡人
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電子信箱
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李宗穆
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amu@otsukael.com.tw
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電話
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傳真
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02-25153066
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02-25153069
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公司介紹
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公司性質
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AOI相關元件/模組/平台供應商
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公司簡介
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台灣大塚科技繼承日本大塚電子厚實的光學量測技術，以「光」、「高精度」、「提供客戶解決方案」等關鍵核心DNA，持續深耕台灣在台灣發光發熱。
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AOI主力產品
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顯微分光膜厚計OPTM：量測目標膜層的絕對反射率，提高膜厚和光學定數精度
多通道分光光譜儀MCPD：動態範圍 (dynamic range) 廣泛、實現高速、高重現性、輕量、輕巧
光譜干涉WAFER測厚儀SF-3：以非接觸方式，高速且高精度測量晶圓和樹脂厚度
Load Port對應晶圓厚度膜厚量測設備GS / TE：可配合半導體工廠膜厚需求的一體化
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